Topological sensitivity for solving inverse multiple scattering problems in three-dimensional electromagnetism. Part I: One step method

Detalles Bibliográficos
Autores: Rapun Banzo, Maria Luisa|||0000-0001-5787-5252; Le Louer, Frederique
Tipo de documento: Artículo
Fecha de publicación:2017
País:España
Institución:Universidad Politécnica de Madrid
Repositorio:Archivo Digital UPM
OAI Identifier:oai:oa.upm.es:50240
Acceso en línea:https://oa.upm.es/50240/
Nivel de acceso:Acceso abierto
Palabra clave:Electromagnetism
topological derivative
inverse obstacle scattering problems
shape reconstruction
Descripción
Descripción no disponible.